礦物嵌布粒度可分為結晶粒度與工藝粒度。結晶粒度是指單個結晶體(晶質個體)的相對大小和由大到小的相應質量分數。結晶粒度主要用于成因研究。工藝粒度又叫嵌布粒度是指某些礦物的集合體顆粒和單晶體顆粒的相對大小和由大到小的相應質量分數。它是決定礦物單體分離的重要因素。

　　在選礦工藝過程中，礦物嵌布粒度是選擇碎礦、磨礦作業(yè)和選礦方法的主要依據之一，是影響礦石可選性的重要方面，也是確定磨礦流程和選別流程結構的重要依據。

　　礦物嵌布粒度通常采用顯微鏡測定。顯微鏡下粒度測量的方法主要包括：面測法、線測法和點測法。通過測定可繪制出礦物的粒度分布曲線，如下圖(有用礦物粒度累計曲線的類型)所示：

　　根據粒度分布曲線可以判斷礦物的分布情況：

　　1、均勻分布

　　這種礦石中有用礦物的粒度范圍很窄，曲線陡峻，曲線分布的粒徑范圍一般較窄(圖a線)。一般可以采用一段磨礦。(碎礦機)

　　2、粗粒不均勻分布

　　這類礦石中有用礦物的粒度范圍較寬，向上凸(圖b線)。這類礦石應分段磨礦，分段選別。

　　3、細粒不均勻分布

　　這類礦石中有用礦物的粒度范圍較寬，這類礦石中有用礦物的粒度范圍較寬，但以細粒為主，曲線向下凹(圖c線)。這類礦石也要分段磨礦，分段選別。(磨礦機)

　　4、極不均勻分布

　　礦物的粒度范圍很寬，各種粒度的礦物顆粒含量大致接近，曲線為傾斜的(近似)直線(圖d線)。這類礦石很難確定合理的磨礦細度，應根據具體情況可采取多段磨礦、多段選別。有時還需釆用多種選礦方法的聯合流程。

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